CT 200
中心厚度测量系统
| • | 配备通过触摸屏界面对测量循环进行电子控制的功能 |
| • | 软件控制的自动运动循环编辑和配置，与特定作业关联（需要 X-ct 软件包） |
| • | 高精度、 稳定可靠的中心厚度测量系统，适用于生产及质量检测环境中的研磨、抛光和镀膜光学元件 |
| • | 专为长期可靠性和高成本效益运行而设计 |
| • | 除中心厚度测量外，还支持测量矢高深度、表面孔径直径、透镜总高度和材料去除量 |
| • | 通过创新的精密三爪卡盘系统实现透镜自动定心 |
| • | 通过气动自动驱动测头同时接触工件上下两侧，实现中心厚度的直接测量 |
| • | 简单、快速、安全的工件设置和装载 |
| • | 经众多独立方验证，即使对于具有严格外观要求的最敏感抛光和镀膜光学元件，也几乎消除了损坏风险 |
| • | 大测量范围，从直径 8mm 以下至 200mm |
| • | 脚踏开关，便于高效进行系列测量 |
