VT1000DL
立式向下干涉仪系统
| • | 适用于生产、质量检测和计量实验室环境的精密干涉仪塔身 |
| • | 超大测量范围，可测量曲率半径高达 1000mm 的光学元件 |
| • | 天然花岗岩立柱，具有极其平整和精确的导向面，确保易用性以及对光学元件曲率半径的精确测量 |
| • | 高精度、高准确度的线性光栅尺，具有卓越的分辨率，直接与条纹分析软件接口 |
| • | 测量工作台采用配重平衡并在空气轴承滑块上导向，实现快速、轻松和精确的设置与移动 |
| • | 占地面积小，性价比高，结合了高精度与刚性、免维护的设计 |
| • | 强大的减振系统，非常适合在工业生产环境中使用 |
| • | XONOX X-fiz 100（4" 和 5.2"）或 X-fiz 150（6"）高性能斐索干涉仪，具有电子控制的变焦、对焦和对比度/饱和度调节功能 |
| • | 创新、强大且用户友好的条纹分析系统 X-fringe PS2，具有多种智能模式以适应不同应用 |
| • | 系统可配备 PC 工作台、2 个屏幕、鼠标和键盘，或配备触摸面板，以优化操作并最小化生产环境中的空间需求 |
| • | 提供"仅塔身"版本 "B"，用于集成现有的或第三方干涉仪单元 |
