HS1200
卧式干涉仪系统
| • | 适用于生产、质量检测和计量实验室环境的精密干涉仪系统 |
| • | 超大测量范围，可测量曲率半径高达 1400mm 的光学元件 |
| • | 天然花岗岩立柱，具有极其平整和精确的导向面，确保易用性以及对光学元件曲率半径的精确测量 |
| • | 高精度、高准确度的线性光栅尺，具有卓越的分辨率，直接与条纹分析软件接口 |
| • | 测量工作台在空气轴承滑块上导向，实现快速、轻松和精确的设置与移动 |
| • | 额外的 5 轴微调（X-Y-Z-倾斜/偏摆） |
| • | 刚性、免维护设计 |
| • | XONOX X-fiz 100（4" 和 5.2"）或 X-fiz 150（6"）高性能斐索干涉仪，配备 500 万像素 CMOS 相机，具有电子控制的变焦、对焦和对比度/饱和度调节功能 |
| • | 创新、强大且用户友好的条纹分析系统 X-fringe PS2，具有多种智能模式以适应不同应用 |
| • | 系统可配备可选的 PC 工作台、2 个屏幕、鼠标和键盘 |
| • | 提供"仅工作站"版本 "B"，用于集成现有的或第三方干涉仪单元 |
| • | 轻便型版本设计用于安装在客户现有的光学平台上。提供HS1200 完整版本，包含减振平台 |
