22-CT200NC_3-4-1920w
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CT 20O NC

非接触式中心厚度测量系统
• 配备通过触摸屏界面电子控制测量循环的功能
• 可通过软件编辑和配置自动运动循环,并与具体任务关联(需X-ct软件包)
• 高精度、坚固耐用的中心厚度测量系统,适用于研磨、抛光和镀膜光学元件的生产及质检环境
• 专为长期可靠性和高成本效益运行而设计
• 除中心厚度测量外,还支持测量矢高深度、表面孔径直径、透镜总高度和材料去除量
• 采用创新的精密三爪卡盘系统,自动对中透镜
• 通过气动自动驱动测头同时接触工件上下两侧,实现中心厚度的直接测量
• 工件装载简单、快速且安全
• 经多方独立验证,可最大限度降低对光学元件造成损伤的风险,即使对表面质量要求极为严苛的抛光镀膜镜片也适用
• 测量范围广,从直径8mm以下至200mm
• 配备脚踏开关,便于高效进行批量测量